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SEIR

SEIR는 통합 회로 제조에 사용되는 도핑 에피텍셜 층과 필름의 3D 기하학 구조 및 균일성의 비접촉 및 비파괴 측정을 위해 독점적인 모델 기반 적외선 반사측정 (MBIR) 및 분광 분광계 (SE) 기술을 사용합니다. 작은 스팟 크기로 도구는 scribeline 테스트 구조의 측정에 적합합니다. SEIR의 고유한 하이브리드 SE-IR 기술과 분석 능력은 어려운 구조와 필름 스택의 측정을 가능하게 합니다.

Features and System specifications:

•Scalable measurement capability at all technology nodes

•Capable of mixed 150/200 mm or 200/300 mm operation under software control

•Windows-based software with menu-driven recipe selection/generation

•Cognex Patmax© pattern recognition

•Camera-based autofocus