Semilab는 자체 자동 웨이퍼 분류 플랫폼 외에도 automated PV production lines 에 통합할 수 있는 별도의 측정 장치를 제조합니다. Semilab는 관련 자동화 회사와 함께 작업하여 이러한 측정 장치를 제작하고 있습니다.
이 장비는 태양전지 산업에서 종합적인 공정 및 품질 통제를 위한 다양한 Metrology 요구 사항을 충족합니다:
-Incoming wafer inspection and process control during cell manufacturing
-Measurement in as-cut wafer, textured, after diffusion, after passivation, after ARC deposition, after contact formation states
-Measurements of geometrical, electrical and optical properties
-Solutions for mono and multicrystalline silicon materials, Al-BSF, PERC, IBC and heterojunction cell concepts
모든 측정 장치는 다음 지침을 고려하여 설계되었습니다:
-Compatibility to state-of-the-art production lines
-Supporting all the industry standard communication protocols
-Flexible integration
-“Supporting both ”on-the-fly” and ”stop-and-go” data acquisition modes
-Compact design
-Simple integration and support
-Simple maintenance, rare calibration periods
-Application of noise reduction solutions
-Simple and configurable customization of communication protocols