Semilab의 광학적 측정 장치는 다양한 기술을 사용하여 정밀한 반도체 정보를 얻습니다.
Ellipsometer는 빛과 표면의 상호 작용을 분석하여 Film 두께와 구조를 알아내며,
Photoluminescence 분광법은 반도체에 빛을 비추고 방출된 광자를 측정하여 Bandgap, Carrier concentration 및 Defect와 같은 정보를 제공합니다.
Semilab의 Reflectometry는 Layer 특성과 Interface를 비파괴적으로 특성화하며 두께와 Optical constant와 같은 중요한 데이터를 제공합니다.
이러한 기술들은 물질 품질 평가와 반도체 장치 최적화에 핵심적인 역할을 합니다.
Semilab은 오늘날 반도체를 이해하는 데 중요한 역할을 하는 비파괴적 전기 측정 분야의 선두에 서 있습니다.
Semilab의 방법을 사용하여 장치들의 중요한 전기적 특성을 손상 시키지 않습니다.
이를 통해 Carrier mobility, Resistivity, Doping concentration과 같은 중요한 정보를
알아낼 수 있습니다.
이러한 비파괴적인 기술들은 반도체 기술 혁신에서 중요한 역할을 하며, 전문가들이 장치의 작동과 성능을 더 깊이 이해하고 최적화 할 수 있도록 도와줍니다.
Semilab은 반도체 분석을 깊이 있게 다루기 위해 접촉 및 파괴적 전기 측정 방법을
사용합니다.
이러한 방법들은 반도체 재료와 직접 상호 작용하여 중요한 특성과 동작에 대한 통찰력을
제공합니다. 제어된 전기 신호를 적용함으로써 Semilab의 장치는 Resistivity, Mobility 및
Doping concentration과 같은 중요한 파라미터를 정확하게 측정할 수 있습니다.
이러한 물질 특성에 대한 깊은 이해는 반도체 성능을 최적화하고 기술 혁신을 촉진하는 데
큰 역할을 합니다.
Semilab은 패널 디스플레이 제조 과정에서 다양한 광학 및 전기적 특성을 점검하기 위해
개발한 다양한 기술 포트폴리오를 보유하고 있습니다.
이를 위해 별도의 제품 라인인 Flat Panel Tester 도구가 설계되어 있습니다.
이 도구는 Fab 환경에 통합되어 큰 면적 기판에서 고급 측정 능력을 제공합니다.
이외에도 연구 및 오프라인 품질 관리를 위한 실험실 도구도 사용 가능합니다.
Semilab은 강력한 과학적 기반을 갖고 있으며, 학계와 긴밀한 협력을 통해 반도체, 태양전지, 디스플레이 산업 및 재료 과학 분야의 연구 개발을 위한 맞춤형 솔루션을 개발합니다.
특히 박막과 표면에 집중하며, 모든 도구들은 다양한 설정으로 다양한 요구를 충족시키기
위해 다재다능하게 사용될 수 있습니다. Semilab은 파트너와 공동 연구를 통해 혁신을 촉진하며, 연구 결과는 학회와 출판물을 통해 널리 알리고 있습니다.
