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MCV

Semilab의 MCV 시스템은 안전성과 신뢰성을 높이기 위해 자동화된 Mercury 처리 시스템을 장착하고 있습니다. 사용자 친화적인 소프트웨어 환경은 측정을 제어하며 측정된 구조물의 상세한 분석을 위한 큰 유연성도 제공합니다. 최대 12"/300mm까지의 완전한 Mapping 기능을 제공합니다.

Features and System specifications:

On top of the standard CV measurements and standard electronic units, a number of advanced metrology options are available to extend measurement capabilities:

•Multi-frequency CV meter (1kHz to 10MHz), KEITHLEY-4200 for advanced dielectric layer characterization

•Different capillary diameters to meet application demands: standard capillaries d=1.7mm or capillaries with 0.5, 0.7, 1.0 and 4.0mm optionally

•IV option: Current-Voltage based Dielectric Integrity and Reliability investigations

•Pulsed CV option

•Mercury Vapour Analyzer option